UN-TFA1628S-6MP

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 2/3"
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Охват широкого диапазона рабочих расстояний

· Фиксируемые настройки расстояния и диафрагмы

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.

· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.