UN-ALS284K

Особенности продукта:

· Разработано для датчика с большой рамкой 32 мм

· Отличные оптические характеристики, равномерное изображение центра и края

Информация о продукте: Индивидуальный дизайн доступен по запросу.

For color sorting equipments, textile and non-woven fabric surface testing, flexible packaging & large-format printing quality checking, plastic film and paper web flaw detection, flat glass and building panel surface screening, metal strip preliminary defect inspection, lumber board sorting and agricultural material sorting.

· Developed for 40mm big frame sensor

· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

For inspection of lithium battery separators and coated copper & aluminum foils, high-end printing and anti-counterfeit packaging, precision testing of PCBs and 3C electronics, and surface defect detection of metal sheets and coils.

· Developed for 64mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 2K, 4K, 8K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

For inspection of lithium battery separators and coated copper & aluminum foils, high-end printing and anti-counterfeit packaging, precision testing of PCBs and 3C electronics, surface defect detection of metal sheets and coils, flat panel display & glass defect inspection, and dimension measurement of various rolled materials.

· Developed for 64mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 2K, 4K, 8K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения φ28
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.

· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 2/3"
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.