Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1 дюйм
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

Пользовательский усеченный дублет и синглет Линзы от UNI Optics

Мы предлагаем обширную индивидуальную усеченный дуплет линз сервис. Благодаря нашему 30-летнему опыту работы в отрасли, мы всегда можем найти для вас подходящий продукт и спецификацию, независимо от того, требуются ли вам экзотические материалы или исключительно жесткие допуски, мы уверены в нашей способности предоставить вам все необходимое. Приведенная ниже таблица представляет собой краткий обзор наших дуплетных линз и не является исчерпывающим списком. Если ваши индивидуальные требования не соблюдены, свяжитесь с нашим техническим отделом продаж, который с радостью предоставит вам консультацию по адресу advise.es, и это далеко не полный список. Если ваши индивидуальные требования не соблюдены, обратитесь в нашу техническую команду по продажам, которая с радостью проконсультирует вас.

Типовые характеристики:

Типовые материалы : Кремень (N / F2) и Корона (BK7)
Кремень (SF6) и Корона (N-LAK22)
UV & IR материалы по запросу
Диаметр : От 3 мм до 200 мм +
Фокусное расстояние : От 3 мм до 1000 мм +
Центрирование : <3 угловых секунды
Фигура поверхности : <0,1 бахромы
Качество поверхности : <10/5 Поцарапать / копать
Варианты покрытия : Однослойные покрытия и покрытия BBAR для УФ / видимой / ближней ИК-области спектра с относительной средой <0,25%.

Более подробную информацию о достижимых технических характеристиках для вашего индивидуального применения можно найти в e найден, связавшись с нашим техническим отделом продаж.

Особенности продукта:

· Высокая относительная освещенность и высокая контрастность
· Низкий уровень искажений и превосходная яркость по углам

· Высокое разрешение

· Совместимая 1,2-дюймовая 12-мегапиксельная камера

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.