UN-GSWIR5014L

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения φ28
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения φ28
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.

· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

Продукт Особенности:

1. .совместимый для 2 / 3 '' Датчик формата

2. . Ультра-компакт дизайн

3. .Ультра низкое искажение

4. .Высокое относительное освещение

5. .Высокая стоимость

6. .Поставка с фокусировкой и растяжением ириса винты.

Продукт Информация: Пользовательские конструкции доступны на запрос.

Скачать datasheet un-tfa5020c

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения φ28
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция