ООН-GSWIR0814C

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1 дюйм

· Большая диафрагма, до F1.4

· Компактная и легкая конструкция

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1 дюйм
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1 дюйм
· Длина волны: 900-1700 нм
· Большая диафрагма, до F1.4
· Компактная и легкая конструкция

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.

· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

Особенности продукта:

· Охват широкого диапазона рабочих расстояний

· Фиксируемые настройки расстояния и диафрагмы

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

For Intelligent Transportation Systems (ITS) Applications: Road Surveillance, ANPR/ALPR, Automatic Incident Detection, Traffic Enforcement Systems, Railway/Tunnel Safety Monitoring, etc.

· Excellent edge sharpness and uniform illumination
· Designed to resist strong light interference, adaptable to complex lighting conditions
· High stability and low distortion ensure measurement accuracy

For inspection of lithium battery separators and coated copper & aluminum foils, high-end printing and anti-counterfeit packaging, precision testing of PCBs and 3C electronics, surface defect detection of metal sheets and coils, flat panel display & glass defect inspection, and dimension measurement of various rolled materials.

· Developed for 64mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 2K, 4K, 8K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.