UN-ALS1506K

Продукт Особенности:

1. .совместимый для 30 мм Большой датчик формата

2. .большая диафрагма с F2.4

3. . Высокое относительное освещение

4. .Совместим для 2K-4K Линейная сканирование камеры

5. . Ультра-Низкий Искажение, низкая вертикальная ось хроматическая аберрация

6. . Виброустойчивый и высокая стабильность.

Продукт Информация: Пользовательские конструкции доступны на запрос.

Скачать datasheet un-als50tm42

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.

· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.

· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

Особенности продукта:

· Разработано для формата изображения 1/1,8 дюйма
· Низкий уровень искажений
· Высокая относительная освещенность

· Фокус и диафрагма фиксируются винтом

Информация о продукте: Индивидуальные проекты доступны по запросу.