Tel : +86-591-86395085
Email : sales@uni-optics.com
UN-TFA1220X-12MP
| Объектив FA формата 4/3 ″ серии Taurus ( 12 МП) |
|||||
| Модель |
UN-TFA1220X-12MP |
||||
| Фокусное расстояние |
12 мм |
|
|||
| Диафрагма |
Ф 2,0-Ф22 |
||||
| Формат изображения |
4/3 ″ (23мм) |
||||
| Устанавливать |
С |
||||
|
Угол поля Г x В x В (°) |
|
4/3 ″ |
1 ″ |
1/2" |
|
| Д |
89,1° |
6 9 . 0 ° |
37,4 ° |
||
| ЧАС |
7 5 . 6 ° |
57,36 ° |
30,2 ° |
||
| В |
61 . 2 ° |
44 . 3 ° |
22,7 ° |
||
| Оптические искажения |
-2,05%@ у=11,5 мм |
-1,73%@ у=8,0 мм |
-1,01%@ у=4,0 мм |
||
| МОД |
0,15 м |
||||
| Измерение |
Φ 79,8 * 83,8 мм |
||||
| Заднее фокусное расстояние |
18,8 мм |
||||
| Операция |
Ручная ирис |
||||
| Ручная фокусировка |
|||||
| Расчетная длина волны |
420~1000нм |
||||
| Фильтр Резьба |
М77,0×Р0,75 |
||||
| Масса _ |
438г |
||||
| Рабочая температура _ |
-20℃ ～+60 ℃ |
||||
| |
|||||
ир окна германия окна
Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X
For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.
· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
авторское право © UNI OPTICS CO., LTD © все права защищены.
